发布：2015/10/23 16:23:21，浏览：470
近日，根据国家标准化管理委员会标准制修订计划安排，《电子封装用球形二氧化硅微粉中晶体二氧化硅含量的测试方法——XRD法》和《电子封装用球形二氧化硅微粉球化率的检测方法——光电投影法》两项国家标准起草研讨会在连云港市质量技术监督局顺利召开。
此次会议是在全国半导体设备和材料标准化技术委员会的高度重视下召开，由连云港市质量技术监督局标准化处主办。参加会议的有来自全国著名高校、科研院所、检验检测机构的多位行业内专家。其中，《电子封装用球形二氧化硅微粉中晶体二氧化硅含量的测试方法——XRD法》由国家硅材料产品质量监督检验中心负责起草。研讨中，国家硅检中心负责人向各位专家介绍汇报了标准编制前期所做工作，与会专家本着严谨科学的态度对标准中所涉及的检测环境、检测方法、设备要求等展开了热烈认真细致的探讨。专家们对国家硅检中心的标准起草组在对大量技术资料研究、反复探讨和多次实验验证的基础上形成的标准草案给予了高度评价，并对标准草案及相关技术论证工作提出了中肯意见和建议。最后形成会议决议，确定了标准基本框架及下一步研究方案和工作分工。